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    AutorCastán Lanaspa, María Helena (9)Dueñas Carazo, Salvador (9)García García, Héctor (7)Campabadal, F. (4)González, M.B. (4)... másFecha
    2017 (9)
    Formatoapplication/pdf (9)... más
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    Admittance memory cycles of Ta2O5-ZrO2-based RRAM devices 

    Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; González Ossorio, ÓscarAutoridad UVA; Domínguez, Leidy Azucena; García García, HéctorAutoridad UVA; Kalam, Kristjan; Kukli, Kaupo; Ritala, Mikko; Leskelä, Markku (2017)
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    A physically based model to describe resistive switching in different RRAM technologies 

    González-Cordero, G.; González, M.B.; García García, HéctorAutoridad UVA; Campabadal, F.; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; Jiménez-Molinos, F.; Roldán, J.B. (2017)
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    Advanced electrical characterization of atomic layer deposited Al2O3 MIS-based structures 

    García García, HéctorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; González, M.B.; Acero, M.C.; Campabadal, F. (2017)
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    A physically based model for resistive memories including a detailed temperature and variability description 

    González-Cordero, G.; González, M.B.; García García, HéctorAutoridad UVA; Campabadal, F.; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; Jiménez-Molinos, F.; Roldán, J.B. (2017)
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    Properties of Zirconium Oxide and Cobalt Ferrite Layered Nanocomposite 

    Tamm, Aile; Joost, Urmas; Mikkor, Mats; Kalam, Kristjan; Mändar, Hugo; Seemen, Helina; Link, Joosep; Stern, Raivo; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Kukli, Kaupo (2017)
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    Magnetic and Electrical Performance of Atomic Layer Deposited Iron Erbium Oxide Thin Films 

    Tamm, Aile; Kalam, Kristjan; Seemen, Helina; Kozlova, Jekaterina; Kukli, Kaupo; Aarik, Jaan; Link, Joosep; Stern, Raivo; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA (2017)
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    Experimental Observation of Negative Susceptance in HfO2-Based RRAM Devices 

    Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; García García, HéctorAutoridad UVA; Ossorio, Oscar G.; Dominguez, Luis A.; Miranda, E. (2017)
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    RRAM Memories with ALD High-K Dielectrics: Electrical Characterization and Analytical Modeling 

    Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Sardiña, A.; García García, HéctorAutoridad UVA; Arroval, T.; Tamm, A.; Jõgiaas, T.; Kukli, K.; Aarik, J. (2017)
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    Study of the admittance hysteresis cycles in TiN/Ti/HfO2/W-based RRAM devices 

    Dueñas Carazo, SalvadorAutoridad UVA; Castán Lanaspa, María HelenaAutoridad UVA; García García, HéctorAutoridad UVA; Miranda, E.; González, M.B.; Campabadal, F. (2017)

    Universidad de Valladolid

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