español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
Toggle navigation
español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
Toggle navigation
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Search UVaDOC
This Collection
Browse
All of UVaDOC
Communities
By Issue Date
Authors
Subjects
Titles
My Account
Login
Recent submissions
UVaDOC Home
SCIENTIFIC PRODUCTION
Grupos de Investigación
Grupo de Caracterización de Materiales y Dispositivos Electrónicos (GCME)
GCME - Artículos de revista
Recent submissions
UVaDOC Home
SCIENTIFIC PRODUCTION
Grupos de Investigación
Grupo de Caracterización de Materiales y Dispositivos Electrónicos (GCME)
GCME - Artículos de revista
Recent submissions
español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
GCME - Artículos de revista: Recent submissions
Now showing items 56-57 of 57
Analysis and control of the intermediate memory states of RRAM devices by means of admittance parameters
Castán Lanaspa, María Helena
;
Dueñas Carazo, Salvador
;
García García, Héctor
;
González Ossorio, Óscar
;
Domínguez, Leidy Azucena
;
Sahelices Fernández, Benjamín
;
Miranda, E.
;
Bargalló González, Mireia
;
Campabadal Segura, Francesca
(
2018
)
Atomic layer deposition and properties of ZrO2/Fe2O3 thin films
Kalam, Kristjan
;
Seemen, Helina
;
Ritslaid, Peeter
;
Rähn, Mihkel
;
Tamm, Aile
;
Kukli, Kaupo
;
Kasikov, Aarne
;
Link, Joosep
;
Stern, Raivo
;
Dueñas Carazo, Salvador
;
Castán Lanaspa, María Helena
;
García García, Héctor
(
2018
)