español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
Cambiar navegación
español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
Cambiar navegación
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Buscar en UVaDOC
Esta colección
Listar
Todo UVaDOC
Comunidades
Por fecha de publicación
Autores
Materias
Títulos
Mi cuenta
Acceder
Descubre
Autor
Castán Lanaspa, María Helena (2)
Dueñas Carazo, Salvador (2)
Aarik, J. (1)
Arroval, T. (1)
García García, Héctor (1)
... más
Fecha
2018 (1)
2017 (1)
Formato
application/pdf (2)
... más
GCME - Capítulos de monografías
UVaDOC Principal
PRODUCCIÓN CIENTÍFICA
Grupos de Investigación
Grupo de Caracterización de Materiales y Dispositivos Electrónicos (GCME)
GCME - Capítulos de monografías
UVaDOC Principal
PRODUCCIÓN CIENTÍFICA
Grupos de Investigación
Grupo de Caracterización de Materiales y Dispositivos Electrónicos (GCME)
GCME - Capítulos de monografías
español
English
français
Deutsch
português (Brasil)
italiano
GCME - Capítulos de monografías
Listar por
Por fecha de publicación
Autores
Materias
Títulos
Búsqueda en esta colección:
Ir
Envíos recientes
RRAM Memories with ALD High-K Dielectrics: Electrical Characterization and Analytical Modeling
Castán Lanaspa, María Helena
;
Dueñas Carazo, Salvador
;
Sardiña, A.
;
García García, Héctor
;
Arroval, T.
;
Tamm, A.
;
Jõgiaas, T.
;
Kukli, K.
;
Aarik, J.
(
2017
)
Capacitance Spectroscopy for MOS Systems
Dueñas Carazo, Salvador
;
Castán Lanaspa, María Helena
(
2018
)