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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	328

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Consultations : palmarès par pays

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Brésil	20
Etats-Unis	11
Russie	11
Espagne	10
Vietnam	6
Chine	5
Vénézuela	2
Canada	2
Bangladesh	1
Allemagne	1

Países con más descargas

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Etats-Unis	20
Allemagne	4
Canada	3
Espagne	2
Chine	2
Russie	1

Consultations : palmarès par ville

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Inca	8
São Paulo	4
Rio de Janeiro	3
Ho Chi Minh City	3
Montreal	2
Shanghai	2
Valladolid	2
Hanoi	2
Arenapolis	1
Ashburn	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	9
Inca	2
Shanghai	1