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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	480

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octubre 2025	15
noviembre 2025	11
diciembre 2025	20
enero 2026	40
febrero 2026	17
marzo 2026	24
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octubre 2025

15
noviembre 2025

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enero 2026

15
febrero 2026

4
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Países con más visualizaciones

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Estados Unidos	44
China	25
Brasil	13
Hong Kong	5
Vietnam	4
México	4
Paquistán	3
Reino Unido	3
Canadá	2
Colombia	2

Países con más descargas

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Estados Unidos	35
China	4
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Reino Unido	3
Brasil	2
Vietnam	1
México	1
Canadá	1

Ciudades con más visualizaciones

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San Jose	5
Central	4
Beijing	3
Ashburn	3
San Francisco	2
Seoul	2
Tashkent	2
Lahore	2
Amsterdam	1
Atlanta	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	3
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