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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	408

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julio 2025

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agosto 2025

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17
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China	21
Rusia	8
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Brasil	5
Canadá	4
Corea del Sur	3
Alemania	2
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Venezuela	2

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Estados Unidos	27
Alemania	7
China	4
Canadá	4
España	4
Brasil	2
Corea del Sur	1
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Inca	8
San Jose	5
Beijing	3
Hefei	2
Montreal	2
Seoul	2
Shanghai	2
Tokyo	2
Frankfurt am Main	2
Ashburn	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	5
Beijing	2
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Inca	2
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