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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	225

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junio 2024	6
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agosto 2024	20
septiembre 2024	16
octubre 2024	7
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mayo 2024

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junio 2024

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agosto 2024

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Estados Unidos	46
Singapur	13
Suiza	5
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Estados Unidos	27
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Suiza	1
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Indonesia	1

Ciudades con más visualizaciones

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Ashburn	13
Washington	7
Singapore	6
Santa Clara	4
Boardman	4
Indianola	3
Canyon Country	1
Houston	1
Jakarta	1
Prineville	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	7
Washington	1
Canyon Country	1
Jakarta	1
Prineville	1