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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	416

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Consultations : palmarès par ville

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Inca	8
San Jose	5
Beijing	3
Hefei	2
Montreal	2
Seoul	2
Shanghai	2
Tokyo	2
Frankfurt am Main	2
Ashburn	1

Ciudades con más descargas

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