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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	416

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agosto 2025	14
settembre 2025	25
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dicembre 2025	20
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luglio 2025

9
agosto 2025

8
settembre 2025

11
ottobre 2025

15
novembre 2025

17
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6
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Cina	24
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Inca	8
San Jose	5
Beijing	3
Hefei	2
Montreal	2
Seoul	2
Shanghai	2
Tokyo	2
Frankfurt am Main	2
Ashburn	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	5
Beijing	2
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Inca	2
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