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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	225

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maggio 2024	9
giugno 2024	6
luglio 2024	12
agosto 2024	20
settembre 2024	16
ottobre 2024	7
novembre 2024	1

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maggio 2024

9
giugno 2024

7
luglio 2024

9
agosto 2024

3
settembre 2024

8
ottobre 2024

13
novembre 2024

1
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Países con más visualizaciones

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Stati Uniti	46
Singapore	13
Svizzera	5
Russia	4
Cina	1
Germania	1
Indonesia	1

Países con más descargas

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Stati Uniti	27
Cina	4
Germania	2
Svizzera	1
Russia	1
Indonesia	1

Ciudades con más visualizaciones

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Ashburn	13
Washington	7
Singapore	6
Santa Clara	4
Boardman	4
Indianola	3
Canyon Country	1
Houston	1
Jakarta	1
Prineville	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	7
Washington	1
Canyon Country	1
Jakarta	1
Prineville	1