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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications285

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dicembre 20242
gennaio 202523
febbraio 20252
marzo 20252
aprile 20254
maggio 202524
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Spagna1
Hong Kong1

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Ho Chi Minh City2
Valladolid2
Hanoi2
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Brasília1
Cachoeiro de Itapemirim1
Central1
Criciúma1
Guarulhos1

Ciudades con más descargas

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Central1