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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	415

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Julho 2025	10
Agosto 2025	14
Setembro 2025	25
Outubro 2025	15
Novembro 2025	11
Dezembro 2025	20
Janeiro 2026	26

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Julho 2025

9
Agosto 2025

8
Setembro 2025

11
Outubro 2025

15
Novembro 2025

17
Dezembro 2025

6
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Principais visualizações por país

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Estados Unidos	44
China	24
Rússia	8
Espanha	8
Brasil	5
Canadá	4
Coreia do Sul	3
Alemanha	3
Reino Unido	2
Japão	2

Países con más descargas

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Estados Unidos	30
Alemanha	7
China	4
Canadá	4
Espanha	4
Reino Unido	3
Brasil	2
Coreia do Sul	1
Rússia	1

Principais visualizações por cidade

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Inca	8
San Jose	5
Beijing	3
Hefei	2
Montreal	2
Seoul	2
Shanghai	2
Tokyo	2
Frankfurt am Main	2
Ashburn	1

Ciudades con más descargas

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Ashburn	5
Beijing	2
Frankfurt am Main	2
Inca	2
Shanghai	1