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Electrical characterization of defects created by γ-radiation in HfO2-based MIS structures for RRAM applications	285

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Dezembro 2024	2
Janeiro 2025	23
Fevereiro 2025	2
Março 2025	2
Abril 2025	4
Maio 2025	24
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Dezembro 2024

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Janeiro 2025

7
Fevereiro 2025

6
Março 2025

6
Abril 2025

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Principais visualizações por país

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China	20
Brasil	13
Estados Unidos	11
Vietnã	4
Rússia	4
Espanha	2
Finlândia	1
Hong Kong, Região Admin. Especial da China	1
Índia	1
Quirguistão	1

Países con más descargas

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Estados Unidos	12
China	5
Espanha	1
Hong Kong, Região Admin. Especial da China	1

Principais visualizações por cidade

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São Paulo	3
Ho Chi Minh City	2
Valladolid	2
Hanoi	2
Arenapolis	1
Brasília	1
Cachoeiro de Itapemirim	1
Central	1
Criciúma	1
Guarulhos	1

Ciudades con más descargas

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Central	1