Número total de visitas

Visualizaciones
Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation990

Visitas al fichero

Descargas
2018_Santos_JEM_47.pdf633

Seleccione un intervalo de tiempo:

VisualizacionesDescargas

Número de visitas en el intervalo

Visualizaciones
Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation201

Número de descargas en el intervalo

Descargas
2018_Santos_JEM_47.pdf54

Visitas

Visitas
julio 202542
agosto 202528
septiembre 202524
octubre 202536
noviembre 202526
diciembre 202517
enero 202628
Descarga de datos en CSV
 
Gráfico barras
 
Gráfico lí­neas

Número de descargas en el intervalo

  • Descargas
  • julio 2025
    3
  • agosto 2025
    8
  • septiembre 2025
    9
  • octubre 2025
    9
  • noviembre 2025
    15
  • diciembre 2025
    5
  • enero 2026
    5
 
Gráfico barras
 
Gráfico lí­neas

Países con más visualizaciones

Visualizaciones
Estados Unidos48
China38
Singapur25
España25
Brasil15
Vietnam9
Rumania5
Hong Kong5
Francia4
México4

Países con más descargas

Descargas
Estados Unidos26
China5
Singapur3
España2
Francia1

Ciudades con más visualizaciones

Visualizaciones
Shanghai12
Inca8
Singapore6
Ho Chi Minh City5
Central5
Craiova4
Reston3
Hefei3
Ashburn2
Atlanta2

Ciudades con más descargas

Descargas
Inca2
Singapore1
Ashburn1