Statistiques 

Statistiques

Nombre total de visites

Consultations
Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation1013

Téléchargements de fichiers

Descargas
2018_Santos_JEM_47.pdf639

Seleccione un intervalo de tiempo:

VisualizacionesDescargas

Número de visitas en el intervalo

Consultations
Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation154

Número de descargas en el intervalo

Descargas
2018_Santos_JEM_47.pdf49

Visitas

Visitas
septembre 202524
octobre 202536
novembre 202526
décembre 202517
janvier 202630
février 202621
mars 20260
Descarga de datos en CSV
 
Gráfico barras
 
Gráfico lí­neas

Número de descargas en el intervalo

  • Descargas
  • septembre 2025
    9
  • octobre 2025
    9
  • novembre 2025
    15
  • décembre 2025
    5
  • janvier 2026
    5
  • février 2026
    6
  • mars 2026
    0
  • Descarga de datos en CSV
 
Gráfico barras
 
Gráfico lí­neas

Consultations : palmarès par pays

Consultations
Etats-Unis50
Chine29
Singapour21
Vietnam14
Brésil9
France3
Mexique3
Canada3
Argentine2
Australie2

Países con más descargas

Descargas
Etats-Unis22
Chine6
Australie4
France1
Singapour1

Consultations : palmarès par ville

Consultations
Singapore6
Ho Chi Minh City5
Hanoi3
Reston3
Ashburn3
Brasília2
Etobicoke2
Hefei2
Los Angeles2
North Bergen2

Ciudades con más descargas

Descargas
Los Angeles2
Singapore1
North Bergen1