Estadísticas

Número total de visitas

	Visualizaciones
Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation	1013

Visitas al fichero

	Descargas
2018_Santos_JEM_47.pdf	639

Seleccione un intervalo de tiempo:

VisualizacionesDescargas

Número de visitas en el intervalo

	Visualizaciones
Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation	182

Número de descargas en el intervalo

	Descargas
2018_Santos_JEM_47.pdf	57

Visitas

	Visitas
agosto 2025	28
settembre 2025	24
ottobre 2025	36
novembre 2025	26
dicembre 2025	17
gennaio 2026	30
febbraio 2026	21

Descarga de datos en CSV

Gráfico barras

Gráfico líneas

Número de descargas en el intervalo

Descargas
agosto 2025

8
settembre 2025

9
ottobre 2025

9
novembre 2025

15
dicembre 2025

5
gennaio 2026

5
febbraio 2026

6
Descarga de datos en CSV

Gráfico barras

Gráfico líneas

Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Stati Uniti	51
Cina	42
Singapore	23
Vietnam	15
Brasile	11
Spagna	9
Francia	4
Messico	3
Canada	3
Argentina	2

Países con más descargas

	Descargas
Stati Uniti	27
Cina	6
Spagna	2
Singapore	1
Francia	1

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Shanghai	12
Inca	8
Singapore	7
Ho Chi Minh City	6
Hanoi	3
Hefei	3
Reston	3
Ashburn	3
Brasília	2
Etobicoke	2

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Singapore	1
Ashburn	1