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Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation	955

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Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation	272

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Junho 2025	106
Julho 2025	42
Agosto 2025	28
Setembro 2025	24
Outubro 2025	36
Novembro 2025	26
Dezembro 2025	10

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Junho 2025

2
Julho 2025

3
Agosto 2025

8
Setembro 2025

9
Outubro 2025

9
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15
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Principais visualizações por país

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Estados Unidos	131
China	32
Espanha	25
Cingapura	22
Brasil	18
Vietnã	8
Hong Kong, Região Admin. Especial da China	5
França	4
México	4
Romênia	4

Países con más descargas

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Estados Unidos	21
China	5
Cingapura	3
Espanha	2
França	1

Principais visualizações por cidade

	Visualizações
Council Bluffs	15
Shanghai	12
Inca	8
Central	5
Ho Chi Minh City	4
Singapore	4
Craiova	4
Hefei	3
Atlanta	2
Brasília	2

Ciudades con más descargas

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Council Bluffs	2
Inca	2
Singapore	1