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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	712

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	173

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TFM-G179.pdf	43

Visitas

	Visitas
mayo 2025	24
junio 2025	4
julio 2025	21
agosto 2025	33
septiembre 2025	36
octubre 2025	23
noviembre 2025	32

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
mayo 2025

3
junio 2025

1
julio 2025

10
agosto 2025

8
septiembre 2025

2
octubre 2025

3
noviembre 2025

16
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Países con más visualizaciones

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Estados Unidos	42
China	39
Rusia	15
España	14
Singapur	13
Brasil	13
Venezuela	4
Reino Unido	4
Alemania	3
Francia	3

Países con más descargas

	Descargas
España	7
Estados Unidos	6
China	6
Reino Unido	5
Singapur	4
Alemania	3
Rusia	2

Ciudades con más visualizaciones

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Shanghai	10
Inca	8
Madrid	4
Ashburn	4
Singapore	3
Curitiba	2
Kyiv	2
Santa Clara	2
Coronel	2
Amsterdam	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Madrid	1
Coronel	1