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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	677

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TFM-G179.pdf	255

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Número de visitas en el intervalo

	Visualizaciones
Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	144

Número de descargas en el intervalo

	Descargas
TFM-G179.pdf	30

Visitas

	Visitas
aprile 2025	6
maggio 2025	24
giugno 2025	4
luglio 2025	21
agosto 2025	33
settembre 2025	36
ottobre 2025	20

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
aprile 2025

3
maggio 2025

3
giugno 2025

1
luglio 2025

10
agosto 2025

8
settembre 2025

2
ottobre 2025

3
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Gráfico barras

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Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Stati Uniti	40
Cina	33
Russia	14
Singapore	12
Spagna	12
Brasile	5
Venezuela	4
Regno Unito	4
Germania	3
Ucraina	3

Países con más descargas

	Descargas
Spagna	6
Stati Uniti	4
Singapore	4
Cina	3
Russia	2
Regno Unito	1
Brasile	1
Germania	1

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Shanghai	10
Inca	8
Ashburn	3
Kyiv	2
Madrid	2
Singapore	2
Coronel	2
Amsterdam	1
Barcelona	1
Beijing	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Coronel	1
Madrid	1