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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	842

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	185

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TFM-G179.pdf	53

Visitas

	Visitas
octubre 2025	23
noviembre 2025	34
diciembre 2025	36
enero 2026	22
febrero 2026	16
marzo 2026	17
abril 2026	37

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Número de descargas en el intervalo

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octubre 2025

3
noviembre 2025

17
diciembre 2025

2
enero 2026

5
febrero 2026

5
marzo 2026

13
abril 2026

8
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Países con más visualizaciones

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Estados Unidos	49
Brasil	29
China	16
Vietnam	9
España	7
Reino Unido	6
Argentina	5
Francia	4
India	4
Rumania	4

Países con más descargas

	Descargas
Estados Unidos	13
China	13
Reino Unido	5
España	3
Brasil	1

Ciudades con más visualizaciones

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Madrid	3
Hanoi	3
Ashburn	2
Atlanta	2
Charlotte	2
Chicago	2
Curitiba	2
Dhaka	2
Ho Chi Minh City	2
London	2

Ciudades con más descargas

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