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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	765

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	198

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TFM-G179.pdf	45

Visitas

	Visitas
julio 2025	21
agosto 2025	33
septiembre 2025	36
octubre 2025	23
noviembre 2025	34
diciembre 2025	36
enero 2026	15

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
julio 2025

10
agosto 2025

8
septiembre 2025

2
octubre 2025

3
noviembre 2025

17
diciembre 2025

2
enero 2026

3
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Países con más visualizaciones

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Estados Unidos	62
China	44
Brasil	17
España	14
Singapur	11
Rusia	10
Reino Unido	5
Alemania	4
Francia	3
India	3

Países con más descargas

	Descargas
España	8
Estados Unidos	7
China	7
Reino Unido	5
Singapur	3
Alemania	3
Rusia	1

Ciudades con más visualizaciones

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Shanghai	10
Inca	8
Madrid	4
Ashburn	4
Atlanta	2
Chicago	2
Curitiba	2
Guangzhou	2
Ho Chi Minh City	2
Huangpu	2

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Madrid	1