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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	777

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TFM-G179.pdf	281

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	189

Número de descargas en el intervalo

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TFM-G179.pdf	39

Visitas

	Visitas
agosto 2025	33
septiembre 2025	36
octubre 2025	23
noviembre 2025	34
diciembre 2025	36
enero 2026	22
febrero 2026	5

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
agosto 2025

8
septiembre 2025

2
octubre 2025

3
noviembre 2025

17
diciembre 2025

2
enero 2026

5
febrero 2026

2
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Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Estados Unidos	58
China	44
Brasil	19
España	15
Vietnam	5
Singapur	5
Reino Unido	4
Alemania	4
Francia	3
India	3

Países con más descargas

	Descargas
China	9
España	7
Estados Unidos	6
Reino Unido	5
Alemania	3

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Shanghai	10
Inca	8
Madrid	5
Ashburn	4
Atlanta	2
Chicago	2
Curitiba	2
Guangzhou	2
Hanoi	2
Ho Chi Minh City	2

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Madrid	1