Gesamtzugriffe

Zugriffe
Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica320

Dateiabrufe

Descargas
TFM-G179.pdf243

Seleccione un intervalo de tiempo:

VisualizacionesDescargas

Número de visitas en el intervalo

Zugriffe
Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica26

Número de descargas en el intervalo

Descargas
TFM-G179.pdf4

Visitas

Visitas
November 20196
Dezember 20195
Januar 20209
Februar 20204
März 20201
April 20200
Mai 20201
Descarga de datos en CSV
 
Gráfico barras
 
Gráfico lí­neas

Número de descargas en el intervalo

  • Descargas
  • November 2019
    0
  • Dezember 2019
    0
  • Januar 2020
    1
  • Februar 2020
    1
  • März 2020
    2
  • April 2020
    0
  • Mai 2020
    0
 
Gráfico barras
 
Gráfico lí­neas

Zugriffe nach Ländern

Zugriffe
Spanien8
Hongkong3
Finnland3
Vereinigte Staaten von Amerika2
China2
Bulgarien1
Kanada1
Deutschland1
Frankreich1
Ungarn1

Países con más descargas

Descargas
China1
Vereinigte Staaten von Amerika1

Zugriffe nach Städten

Zugriffe
L'Hospitalet de Llobregat3
Valladolid2
Bucharest1
Hanoi1
Huai'an1
Montreal1
Phoenix1
Sofia1
Turin1

Ciudades con más descargas

Descargas
Hanoi1
Turin1