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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	664

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	131

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TFM-G179.pdf	30

Visitas

	Visitas
abril 2025	6
mayo 2025	24
junio 2025	4
julio 2025	21
agosto 2025	33
septiembre 2025	36
octubre 2025	7

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
abril 2025

3
mayo 2025

3
junio 2025

1
julio 2025

10
agosto 2025

8
septiembre 2025

2
octubre 2025

3
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Países con más visualizaciones

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Estados Unidos	36
China	31
Rusia	14
Singapur	12
España	11
Venezuela	4
Alemania	3
Brasil	3
Bélgica	2
Chile	2

Países con más descargas

	Descargas
España	6
Singapur	4
Estados Unidos	4
China	3
Rusia	2
Brasil	1
Alemania	1
Chile	1

Ciudades con más visualizaciones

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Shanghai	10
Inca	8
Ashburn	3
Kyiv	2
Madrid	2
Singapore	2
Coronel	2
Boardman	1
Caen	1
Central	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Coronel	1
Madrid	1
Boardman	1