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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	704

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	165

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TFM-G179.pdf	36

Visitas

	Visitas
mayo 2025	24
junio 2025	4
julio 2025	21
agosto 2025	33
septiembre 2025	36
octubre 2025	23
noviembre 2025	24

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Número de descargas en el intervalo

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mayo 2025

3
junio 2025

1
julio 2025

10
agosto 2025

8
septiembre 2025

2
octubre 2025

3
noviembre 2025

9
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Países con más visualizaciones

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Estados Unidos	41
China	39
Rusia	14
Singapur	13
España	12
Brasil	10
Venezuela	4
Reino Unido	4
Alemania	3
Francia	3

Países con más descargas

	Descargas
España	7
Estados Unidos	6
Singapur	4
China	4
Rusia	2
Alemania	2
Reino Unido	1

Ciudades con más visualizaciones

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Shanghai	10
Inca	8
Singapore	3
Ashburn	3
Curitiba	2
Kyiv	2
Madrid	2
Santa Clara	2
Coronel	2
Amsterdam	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Coronel	1
Madrid	1