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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	796

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	175

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TFM-G179.pdf	41

Visitas

	Visitas
septiembre 2025	36
octubre 2025	23
noviembre 2025	34
diciembre 2025	36
enero 2026	22
febrero 2026	16
marzo 2026	8

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Número de descargas en el intervalo

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septiembre 2025

2
octubre 2025

3
noviembre 2025

17
diciembre 2025

2
enero 2026

5
febrero 2026

5
marzo 2026

7
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Países con más visualizaciones

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Estados Unidos	54
China	33
Brasil	23
España	7
Vietnam	6
Reino Unido	4
India	4
Argentina	4
Rumania	3
Rusia	3

Países con más descargas

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China	12
Estados Unidos	6
Reino Unido	5
España	4

Ciudades con más visualizaciones

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Madrid	5
Ashburn	5
Atlanta	2
Chicago	2
Curitiba	2
Dhaka	2
Guangzhou	2
Hanoi	2
Ho Chi Minh City	2
Huangpu	2

Ciudades con más descargas

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