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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	442

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	50

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TFM-G179.pdf	27

Visitas

	Visitas
octubre 2023	6
noviembre 2023	2
diciembre 2023	13
enero 2024	9
febrero 2024	7
marzo 2024	7
abril 2024	6

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
octubre 2023

6
noviembre 2023

2
diciembre 2023

1
enero 2024

3
febrero 2024

7
marzo 2024

8
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Países con más visualizaciones

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Estados Unidos	28
Irlanda	5
China	5
Colombia	4
Chile	3
Singapur	2
España	1
Finlandia	1
México	1

Países con más descargas

	Descargas
Estados Unidos	5
China	2
Chile	2
España	2
Colombia	1

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Ashburn	9
Shanghai	5
Inglewood	5
Bogotá	3
Puente Alto	2
Boardman	1
Dublin	1
Las Marinas	1
Mexico City	1
Palmira	1

Ciudades con más descargas

	Descargas
Ashburn	2
Shanghai	2
Bogotá	1
Puente Alto	1