Total de visitas

Visualizações
Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica566

Arquivos visitados

Descargas
TFM-G179.pdf232

Seleccione un intervalo de tiempo:

VisualizacionesDescargas

Número de visitas en el intervalo

Visualizações
Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica60

Número de descargas en el intervalo

Descargas
TFM-G179.pdf18

Visitas

Visitas
Dezembro 20249
Janeiro 20256
Fevereiro 20256
Março 20256
Abril 20256
Maio 202524
Junho 20253
Descarga de datos en CSV
 
Gráfico barras
 
Gráfico lí­neas

Número de descargas en el intervalo

  • Descargas
  • Dezembro 2024
    5
  • Janeiro 2025
    2
  • Fevereiro 2025
    2
  • Março 2025
    2
  • Abril 2025
    3
  • Maio 2025
    3
  • Junho 2025
    1
 
Gráfico barras
 
Gráfico lí­neas

Principais visualizações por país

Visualizações
Estados Unidos24
Rússia6
França5
Venezuela4
Irlanda3
Reino Unido3
Chile2
Índia2
Cingapura2
Ucrânia2

Países con más descargas

Descargas
Estados Unidos3
França3
Rússia2
Chile1
Cingapura1

Principais visualizações por cidade

Visualizações
Inglewood6
Bromley3
Kyiv2
Coronel2
Amsterdam1
Ashburn1
Bogotá1
Council Bluffs1
Mumbai1
Perth1

Ciudades con más descargas

Descargas
Coronel1
Ashburn1