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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	812

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	155

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TFM-G179.pdf	46

Visitas

	Visitas
ottobre 2025	23
novembre 2025	34
dicembre 2025	36
gennaio 2026	22
febbraio 2026	16
marzo 2026	17
aprile 2026	7

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Número de descargas en el intervalo

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ottobre 2025

3
novembre 2025

17
dicembre 2025

2
gennaio 2026

5
febbraio 2026

5
marzo 2026

13
aprile 2026

1
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Países con más visualizaciones

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Stati Uniti	44
Brasile	26
Cina	16
Vietnam	8
Regno Unito	5
Spagna	5
India	4
Romania	4
Argentina	4
Francia	3

Países con más descargas

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Cina	13
Stati Uniti	9
Regno Unito	5
Spagna	3

Ciudades con más visualizaciones

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Madrid	3
Ashburn	2
Atlanta	2
Chicago	2
Curitiba	2
Dhaka	2
Hanoi	2
Ho Chi Minh City	2
Recife	2
Rio de Janeiro	2

Ciudades con más descargas

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