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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	782

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TFM-G179.pdf	281

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	Visualizaciones
Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	194

Número de descargas en el intervalo

	Descargas
TFM-G179.pdf	39

Visitas

	Visitas
agosto 2025	33
settembre 2025	36
ottobre 2025	23
novembre 2025	34
dicembre 2025	36
gennaio 2026	22
febbraio 2026	10

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
agosto 2025

8
settembre 2025

2
ottobre 2025

3
novembre 2025

17
dicembre 2025

2
gennaio 2026

5
febbraio 2026

2
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Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Stati Uniti	58
Cina	44
Brasile	20
Spagna	15
Vietnam	5
Singapore	5
Regno Unito	4
India	4
Germania	4
Argentina	3

Países con más descargas

	Descargas
Cina	9
Spagna	7
Stati Uniti	6
Regno Unito	5
Germania	3

Ciudades con más visualizaciones

	Visualizaciones
Shanghai	10
Inca	8
Madrid	5
Ashburn	4
Atlanta	2
Chicago	2
Curitiba	2
Guangzhou	2
Hanoi	2
Ho Chi Minh City	2

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Madrid	1