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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	747

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TFM-G179.pdf	274

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	184

Número de descargas en el intervalo

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TFM-G179.pdf	43

Visitas

	Visitas
giugno 2025	4
luglio 2025	21
agosto 2025	33
settembre 2025	36
ottobre 2025	23
novembre 2025	34
dicembre 2025	33

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
giugno 2025

1
luglio 2025

10
agosto 2025

8
settembre 2025

2
ottobre 2025

3
novembre 2025

17
dicembre 2025

2
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Países con más visualizaciones

	Visualizaciones
Stati Uniti	57
Cina	44
Brasile	15
Spagna	14
Singapore	11
Russia	10
Regno Unito	5
Francia	3
Germania	3
Argentina	2

Países con más descargas

	Descargas
Cina	7
Stati Uniti	6
Spagna	6
Regno Unito	5
Singapore	3
Germania	3
Russia	1

Ciudades con más visualizaciones

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Shanghai	10
Inca	8
Madrid	4
Ashburn	4
Chicago	2
Coronel	2
Curitiba	2
Guangzhou	2
Huangpu	2
Recife	2

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Madrid	1
Coronel	1