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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	777

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TFM-G179.pdf	281

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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica	189

Número de descargas en el intervalo

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TFM-G179.pdf	39

Visitas

	Visitas
Agosto 2025	33
Setembro 2025	36
Outubro 2025	23
Novembro 2025	34
Dezembro 2025	36
Janeiro 2026	22
Fevereiro 2026	5

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Número de descargas en el intervalo

Descargas
Agosto 2025

8
Setembro 2025

2
Outubro 2025

3
Novembro 2025

17
Dezembro 2025

2
Janeiro 2026

5
Fevereiro 2026

2
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Principais visualizações por país

	Visualizações
Estados Unidos	58
China	44
Brasil	19
Espanha	15
Vietnã	5
Cingapura	5
Reino Unido	4
Alemanha	4
França	3
Índia	3

Países con más descargas

	Descargas
China	9
Espanha	7
Estados Unidos	6
Reino Unido	5
Alemanha	3

Principais visualizações por cidade

	Visualizações
Shanghai	10
Inca	8
Madrid	5
Ashburn	4
Atlanta	2
Chicago	2
Curitiba	2
Guangzhou	2
Hanoi	2
Ho Chi Minh City	2

Ciudades con más descargas

	Descargas
Inca	2
Madrid	1