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Simulación de imágenes de defectos intrínsecos en Silicio mediante microscopía electrónica803

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Setembro 202536
Outubro 202523
Novembro 202534
Dezembro 202536
Janeiro 202622
Fevereiro 202616
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  • Setembro 2025
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  • Outubro 2025
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China33
Brasil25
Espanha8
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Reino Unido4
Índia4
Argentina4
França3
Romênia3

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China14
Estados Unidos8
Reino Unido5
Espanha4

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Chicago2
Curitiba2
Dhaka2
Guangzhou2
Hanoi2
Ho Chi Minh City2
Huangpu2

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